The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.

Im Technologiepark 25, Frankfurt (Oder), 15236, Frankfurt (Oder), Germany

#Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDDYRW8N6CR# Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg http://vergabemarktplatz.brandenburg.de Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen. Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden. Fragen oder Auskünfte, die auf anderen Kommunikationswegen eingehen, können nicht berücksichtigt werden. Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben. Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und - sofern im konkreten Verfahren einschlägig - für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist insbesondere auch unter Betrachtung von Transparenz und Effizienz.

Description of the Procurement - Type and Scope of Supplies / Requirements The procurement comprises the supply of a complete semi-automatic wafer prober system for the electrical and RF characterization of 200-mm wafers for research and laboratory applications at IHP. The scope of supply includes, in particular, a semi-automatic 200-mm wafer prober with vacuum chuck, precision XY/Z/Theta positioning, shielded prober chamber, six individual electrical probes, two multi-contact probe holders suitable for RF measurements up to at least 6 GHz, and a probe card adapter. The system shall also include an automated microscope, color and side-view cameras, control PC, hardware control panel, control software, required cables, interfaces, power supplies and replacement probes. The system shall support DC, pulsed I-V and low-frequency impedance measurements up to at least 10 MHz as well as RF characterization. All components shall be technically compatible and capable of being operated as an integrated system. The procurement further includes complete delivery, transport, installation, configuration, commissioning, functional testing, on-site training and provision of all required technical, operating and safety documentation. The supplier shall also provide warranty, service and spare-parts/consumables availability for the specified warranty period. The system must comply with the specified mechanical, electrical, safety, EMC, CE, IT and environmental requirements and be suitable for integration into the existing IHP laboratory and IT infrastructure.

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