Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers

CN-GEN-STDContract notice – general directive, standard regimeihp-2026-041IMIHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Estimated value—
DeadlineExpired31 Aug 2026, 10:00
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Key information

Identifier
Contract type
—
Deadline
31 Aug 2026, 10:00
CPV codes
38000000 - Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
Status
UNKN
Notice type
CN-GEN-STDContract notice – general directive, standard regime
Estimated value
—
Publication date
29 Jul 2026, 12:08

Overview

Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals.

Im Technologiepark 25, Frankfurt (Oder), 15236, Frankfurt (Oder), Germany

#Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYTTXVRNYV# Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg http://vergabemarktplatz.brandenburg.de Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen dort herunterladen. Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum Vergabeverfahren informiert werden. Fragen oder Auskünfte, die auf anderen Kommunikationswegen eingehen, können nicht berücksichtigt werden. Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben. Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren und für das Abgeben eines Angebotes und - sofern im konkreten Verfahren einschlägig - für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung unumgänglich ist insbesondere auch unter Betrachtung von Transparenz und Effizienz.

Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines betriebsbereiten halbautomatischen Wafer-Probersystems mit integriertem Charakterisierungssystem. Das Gesamtsystem muss für DC-I/V-, C-V-, C-f-, C-t- sowie Niederfrequenz-Impedanzmessungen bis 10 MHz geeignet sein und als vollständig integrierte Einheit geliefert, installiert, in Betrieb genommen und einschließlich einer Anwenderschulung übergeben werden. Sämtliche Schnittstellen zwischen den Systemkomponenten sind durch den Auftragnehmer sicherzustellen.

Im Technologiepark 25, Frankfurt (Oder), 15236, Frankfurt (Oder), Germany

#Besonders auch geeignet für:freelance#, #Besonders auch geeignet für:selbst#, #Besonders auch geeignet für:startup#, #Besonders auch geeignet für:other-sme#

Contracting authorities1

Lots1

Documentation0

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Award criteria0

No procedure-level award criteria recorded.

Participants0

No participants recorded for this notice.