Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3) - PR1224803-3340-P
Keep momentum on this opportunity
Save it on this device now. Create an account when you are ready to track deadlines, notes, and teamwork.
- Save and reuse search filters
- Track opportunities as pursuits
- Get notified when new notices match
Keep this notice in a shortlist so you can return to it without starting a bid.
Keep notes, monitor deadlines and collaborate with your team. This does not submit a bid or contact the buyer.
Key information
Overview
Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3) Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3)
Chemnitz, 09126, Chemnitz, Germany
Eignungskriterien https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-19f6168580e-38a702acf72e897b
Eligibility Criteria https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-19f6168580e-38a702acf72e897b
1 Stück Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3) Messsystem für die Charakterisierung elektrooptischer Komponenten mittels elektro-optischem S-Parameter Test (Lightwave Component Analyzer). Mit dem System sollen Laser, Modulatoren, Detektoren,und integrierte Receiver charakterisiert und getestet werden können. Wichtig ist dabei eine hohe Wiederholbarkeit der Messungen ohne zwischenzeitliche Rekalibrierung. Wichtig sind vor allem folgende Eigenschaften des Messsystems: - Messmöglichkeiten: Elektrisch/Optisch, O/E, E/E und O/O - Netzwerkanalysator mit 2 Ports, Frequenzbereich bis mindestens 40 GHz - Laserwellenlänge 1550 nm und Integrationsmöglichkeit einer externen Laserquelle Optionen: 1.6 Analysator für optische Komponenten/Optischer Netzwerkanalysator automatische Kalibrierung des VNA optional als Ersatz für Pos. 1.5 1 Piece Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3) Measurement system for the characterization of electro‑optic components using electro‑optic S‑parameter testing (lightwave component analyzer). The system shall enable characterization and testing of lasers, modulators, detectors, and integrated receivers. A high repeatability of the measurements without intermediate recalibration is important. The following properties of the measurement system are particularly important: - Measurement configurations: electrical/optical, O/E, E/E, and O/O - Network analyzer with 2 ports, frequency range up to at least 40 GHz - Laser wavelength 1550 nm and possibility to integrate an external laser source Optionen: 1.6 Optical Component Analyzer/ Optical Network Analyzer automatic calibration of the VNA optional as replacement for pos. 1.5
Chemnitz, 09126, Chemnitz, Germany
#Besonders auch geeignet für:other-sme#
#Also particularly suitable for:other-sme#