FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

CN-GEN-STDContract notice – general directive, standard regimepr1216644-3220-pFBFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
6 days left
Estimated value
Deadline6 days left24 Jul 2026, 07:00
Competition00 participants
Lots11 lot

Track this opportunity

Register to add pursuits, save this notice, and get alerts when similar tenders appear.

  • Save and reuse search filters
  • Track opportunities as pursuits
  • Get notified when new notices match
Quick actions
Receive alerts

Key information

Identifier
pr1216644-3220-p
Contract type
Deadline
24 Jul 2026, 07:00
CPV codes
42900000 - Miscellaneous general and special-purpose machinery38512100 - Ion microscopes
Status
UNKN
Notice type
CN-GEN-STDContract notice – general directive, standard regime
Estimated value
Publication date
26 Jun 2026, 11:28

Overview

FIB & SEM system + floor vibrations, acoustics interference, and magnetic field interference (HHI-01) FIB & SEM system (HHI-01)

Einsteinufer 37, Berlin, 10587, Berlin, Germany

1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien 1 FIB-SEM dual-beam system As part of the procurement process, a field-free (without immersion optics) focused ion beam system (FIB-SEM) combined with a high-resolution scanning electron microscope (SEM) is to be selected. The system will be used for patterning, nanostructuring, and cross-sectional and surface analysis of primarily III/V semiconductors, LNOI, polymers and resists, as well as process products typical of semiconductor technology. Programmable and automated routines should be configurable where possible. Options - Advanced training course for 15 days (2 people); availability to be confirmed as required - 1 gas injection system with additional components; to be specified in the tender - Software module for importing KLAF files

Einsteinufer 37, Berlin, 10587, Berlin, Germany

#Besonders auch geeignet für:other-sme#

#Also particularly suitable for:other-sme#

Quick actions
Receive alerts
Timeline

26 Jun 2026, 00:00

Requested publication date

Publication

26 Jun 2026, 11:28

Issued at

Publication

24 Jul 2026, 07:00

LOT-0000 Participation request reception period

Deadline

Version history

None recorded.

Contracting authorities1

Lots1

Documentation0

The source system does not support document syncing.

Award criteria0

No procedure-level award criteria recorded.

Participants0

No participants recorded for this notice.